产品信息
热测试系统
详细信息
技术特点:
Ø 全场动态辐射测温:整个温度场/实时动态/非接触式
Ø 高精度测温:黑体实时标定/局部辐射率补偿/图像精度补偿
Ø 温度趋势分析:实时和事后显示任意点温度变化的时间(步长小于0.1s)--温度曲线
Ø 高清晰成像:高分辨率/可见光图像增强/前后景处理
Ø 灵活便携:测量空间大/操作灵活/具便携性
指标:
Ø 温度分辨率:0.060C(环境温度300C)
Ø 测温精度:±0.30C
Ø 测温范围:-100C~2000C
Ø 最小分辨距离:0.5mm
Ø 最大测量范围:1000×1000mm
Ø 环境补偿:手动/自动
Ø 图象记录采样频率:不小于10Hz
适用范围:
Ø 芯片级、PCB板级、整机级电子设备的热测试