当前电子产品的主要失效形式之一是热失效（电子设备的失效有55%是温度超过规定值引起的）。

我公司拥有一流的电子产品热分析诊断的硬件设施，为企业全面提供热分析解决方案、提升企业热设计水平、优化产品品质，促进电子产品的更新换代，推动散热技术的传播，带领整个电子产品热设计行业跨入新领域。

电子产品表面灰度测量

Ø         主要技术指标：

传感器：Pt100

控温测温精度：±0.10C

黑体空腔有效发射率：≥0.999

灰度测量精度：±1%

电子产品分布式温度测试

Ø         主要功能：

测试组件各个位置的温度值，并具有图表显示功能。

Ø         主要技术指标：

测温点数：16（可扩展至64）

温度精度：±0.30C

SH261型环境试验箱温度范围：-60～+1500C±30C

温度上升时间：70分钟之内从-600C上升到+1500C

温度下降时间：70分钟之内从+200C下降到-600C